Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 63284-ed.1.0
Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Přeložit název
NORMA vydána dne 21.4.2022
Informace o normě:
Označení normy: IEC 63284-ed.1.0
Datum vydání normy: 21.4.2022
Kód zboží: NS-1055630
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 63284-ed.1.0 :
IEC 63284:2022 covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of gallium nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress LIEC 63284:2022 couvre le protocole dexecution dune procedure de contrainte et une methode dessai correspondante, en vue devaluer la fiabilite des transistors de puissance a base de nitrure de gallium (GaN) par la commutation sur charge inductive, en particulier la contrainte de commutation dure.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
