Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62951-9-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Přeložit název
NORMA vydána dne 14.12.2022
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62951-9-ed.1.0
Datum vydání normy: 14.12.2022
Kód zboží: NS-1097061
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62951-9-ed.1.0 :
IEC 62951-9:2022(E) specifies the test methods for evaluating the performance of unipolar-type one transistor one resistor (1T1R) resistive memory cells. The performance test methods in this document include read, forming, SET, RESET, endurance and retention. This document is applicable to flexible devices as well as rigid resistive memory devices without any limitations prone to device technology and size.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
