Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
Přeložit název
NORMA vydána dne 14.12.2022
Označení normy: IEC 62951-9-ed.1.0
Datum vydání normy: 14.12.2022
Kód zboží: NS-1097061
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC 62951-9:2022(E) specifies the test methods for evaluating the performance of unipolar-type one transistor one resistor (1T1R) resistive memory cells. The performance test methods in this document include read, forming, SET, RESET, endurance and retention. This document is applicable to flexible devices as well as rigid resistive memory devices without any limitations prone to device technology and size.
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 19.01.2025 (Počet položek: 2 221 213)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.