Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62951-6-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films
Přeložit název
NORMA vydána dne 6.5.2019
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62951-6-ed.1.0
Datum vydání normy: 6.5.2019
Kód zboží: NS-948791
Počet stran: 50
Přibližná hmotnost: 150 g (0.33 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62951-6-ed.1.0 :
IEC 62951-6:2019 specifies terms, as well as the test method and report of sheet resistance of the flexible conducting film under bending and folding tests. The measurement methods include the 2-point probe, 4-point probe and Montgomery method, which can be applied to in-situ and ex-situ measurement and the measurements of anisotropic sheet resistance. L’IEC 62951-6:2019 specifie les termes, ainsi que la methode et le rapport d’essai de la resistance de couche d’une couche conductrice souple soumise a des essais de courbure et de pliage. Les methodes de mesurage comprennent la methode de la sonde 2 points, la methode de la sonde 4 points et la methode de Montgomery, qui peuvent etre appliquees a un mesurage sur site ou hors site et aux mesurages de resistance de couche anisotrope.
Doporučujeme:
