Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62951-3-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
Přeložit název
NORMA vydána dne 7.11.2018
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62951-3-ed.1.0
Datum vydání normy: 7.11.2018
Kód zboží: NS-905566
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62951-3-ed.1.0 :
IEC 62951-3:2018(E) specifies the method for evaluating thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging. The thin film transistor is fabricated on flexible substrates, including polyethylene terephthalate (PET), polyimide (PI), elastomer and others. The stress is applied by applying a uniformly-distributed pressure to the flexible substrate using the equipment.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
