Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.8.2021
Označení normy: IEC 62899-503-3-ed.1.0
Datum vydání normy: 24.8.2021
Kód zboží: NS-1034222
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC 62899-503-3:2021(E) specifies a measuring method of contact resistance for printed thin film transistors (TFTs) by the transfer length method (TLM). The method requires the fabrication of a test element group (TEG) with varying channel length (L) between source and drain electrodes. The method is intended for quality assessment of TFT electrode contacts and is suited for determining whether the contact resistance lies within a desired range.
Poslední aktualizace: 20.01.2025 (Počet položek: 2 220 867)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.