Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62860-ed.1.0
Test methods for the characterization of organic transistors and materials
Automaticky přeložený název:
Zkušební metody pro charakterizaci organických tranzistorů a materiálů
NORMA vydána dne 5.8.2013
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62860-ed.1.0
Datum vydání normy: 5.8.2013
Kód zboží: NS-414921
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62860-ed.1.0 :
IEC 62860:2013(E) covers recommended methods and standardized reporting practices for electrical characterization of printed and organic transistors. Due to the nature of printed and organic electronics, significant measurement errors can be introduced if the electrical characterization design-of-experiment is not properly addressed. This standard describes the most common sources of measurement error, particularly for high-impedance electrical measurements commonly required for printed and organic transistors. This standard also gives recommended practices in order to minimize and/or characterize the effect of measurement artifacts and other sources of error encountered while measuring printed and organic transistors. Keywords: electrical characterization, FET, flexible electronics, high impedance, nanocomposite, nanotechnology, OFET, organic electronics, organic transistor, printed electronics, printing, transistor
Doporučujeme:
