Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.1.2017
Označení normy: IEC 62435-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 24.1.2017
Kód zboží: NS-674450
Počet stran: 36
Přibližná hmotnost: 108 g (0.24 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC 62435-2:2017 is related to deterioration mechanisms and is concerned with the way that components degrade over time depending on the storage conditions applied. This part also includes guidance on test methods that may be used to assess generic deterioration mechanisms. Typically, this part is used in conjunction with IEC 62435-1:2017 for any device long-term storage whose duration may be more than 12 months for product scheduled for long duration storage. LâIEC 62435-2:2017 a trait aux mecanismes de deterioration et traite de la facon dont les composants se degradent dans le temps en fonction des conditions de stockage appliquees. La presente partie contient aussi des preconisations sur les methodes dâessai qui peuvent etre utilisees pour evaluer les mecanismes de deterioration generiques. Elle sâutilise habituellement conjointement avec lâIEC 62435-1:2017 pour tout stockage de dispositifs dont la duree peut etre superieure a 12 mois, pour un produit destine a etre stocke pendant une duree prolongee.
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 27.09.2024 (Počet položek: 2 350 600)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.