Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62373-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
Přeložit název
NORMA vydána dne 15.7.2020
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62373-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 15.7.2020
Kód zboží: NS-1000980
Počet stran: 44
Přibližná hmotnost: 132 g (0.29 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62373-1-ed.1.0 :
IEC 62373-1:2020 provides the measurement procedure for a fast BTI (bias temperature instability) test of silicon based metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). This document also defines the terms pertaining to the conventional BTI test method. L’IEC 62373-1:2020 fournit la methode de mesure pour un essai rapide de BTI (instabilite en temperature sous polarisation) des transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs (MOSFET) a base de silicium. Le present document definit egalement les termes relatifs a la methode d’essai de BTI conventionnelle.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
