Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62047-29-ed.1.0
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
Přeložit název
NORMA vydána dne 22.11.2017
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62047-29-ed.1.0
Datum vydání normy: 22.11.2017
Kód zboží: NS-803213
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62047-29-ed.1.0 :
IEC 62047-29:2017(E) specifies a relaxation test method for measuring electromechanical properties of freestanding conductive thin films for micro-electromechanical systems (MEMS) under controlled strain and room temperature. Freestanding thin films of conductive materials are extensively utilized in MEMS, opto-electronics, and flexible/wearable electronics products. Freestanding thin films in the products experience external and internal stresses which could be relaxed even under room temperature during a period of operation, and this relaxation leads to time-dependent variation of electrical performances of the products. This test method is valid for isotropic, homogeneous, and linearly viscoelastic materials.
Doporučujeme:
