Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Automaticky přeložený název:
Standardní zkušební postupy pro energetické spektrometry polovodič X-ray
NORMA vydána dne 1.1.1983
Označení normy: IEC 60759-ed.1.0
Datum vydání normy: 1.1.1983
Kód zboží: NS-411435
Počet stran: 97
Přibližná hmotnost: 322 g (0.71 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
(Amendement 1 - Methodes d´essais normalises des spectrometres d´energie X a semicteur)
Změna vydána dne 15.11.1991
Vybrané provedení:
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 28.01.2026 (Počet položek: 2 257 539)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.