Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-36-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 36: zrychlení, v ustáleném stavu
NORMA vydána dne 13.2.2003
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-36-ed.1.0
Datum vydání normy: 13.2.2003
Kód zboží: NS-411410
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60749-36-ed.1.0 :
Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test. Decrit un essai utilise pour determiner les effets dacceleration constante sur les dispositifs a semiconducteurs de type a cavite. Il sagit dun essai accelere destine a indiquer les types de faiblesses structurelles et mecaniques non necessairement detectees dans les essais de chocs et de vibrations.
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
