Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-35-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Acoustic mikroskopie pro plastové zapouzdření elektronických součástek
NORMA vydána dne 18.7.2006
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-35-ed.1.0
Datum vydání normy: 18.7.2006
Kód zboží: NS-411409
Počet stran: 43
Přibližná hmotnost: 129 g (0.28 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60749-35-ed.1.0 :
Defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components. Provides a guide to the use of acoustic microscopy for detecting anomalies (delamination, cracks, mould-compound voids, etc.) reproducibly and non-destructively in plastic packages. La presente partie de la CEI 60749 definit les procedures pour realiser la microscopie acoustique pour composants electroniques a boitier plastique. Cette norme fournit un guide d utilisation de la microscopie acoustique pour detecter les anomalies (decollement interlaminaire, fissures, vides dans le compose de moulage) de maniere reproductible et non destructive dans des boitiers en plastique.
Podobné normy:
29.7.1999
30.9.1999
16.6.2000
29.9.2000
29.10.1999
30.10.2001
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
