Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Automaticky přeložený název:
Oprava 1 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 2 : Nízký tlak vzduchu
NORMA vydána dne 12.8.2003
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Datum vydání normy: 12.8.2003
Kód zboží: NS-411379
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1 :
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.
Tato změna (oprava) patří k této normě:
IEC 60749-2-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)
Norma vydána dne 12.4.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Doporučujeme:
