Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Automaticky přeložený název:
Stav systému pro zajištění jednotnosti měření. Rozměrové parametry nanočástic a tenkých vrstev. Metoda pro měření pomocí malého úhlu rozptylu rentgenového difraktometru
NORMA vydána dne 1.9.2010
Označení normy: GOST R 8.698-2010
Datum vydání normy: 1.9.2010
Kód zboží: NS-404491
Počet stran: 38
Přibližná hmotnost: 114 g (0.25 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST
1.11.2010
1.11.2010
1.11.2010
1.2.2008
1.2.2008
1.2.2008
Poslední aktualizace: 24.04.2026 (Počet položek: 2 274 650)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.