Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Automaticky přeložený název:
Stav systému pro zajištění jednotnosti měření. Rozměrové parametry nanočástic a tenkých vrstev. Metoda pro měření pomocí malého úhlu rozptylu rentgenového difraktometru
NORMA vydána dne 1.9.2010
Označení normy: GOST R 8.698-2010
Datum vydání normy: 1.9.2010
Kód zboží: NS-404491
Počet stran: 38
Přibližná hmotnost: 114 g (0.25 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST
1.11.2010
1.11.2010
1.11.2010
1.2.2008
1.2.2008
1.2.2008
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 11.09.2026 (Počet položek: 2 300 165)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.