Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GOST R 71334-2024
Epitaxial structures. Method for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.3.2025
Informace o normě:
Označení normy: GOST R 71334-2024
Datum vydání normy: 1.3.2025
Kód zboží: NS-1187750
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
