Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

GOST R 71334-2024

Epitaxial structures. Method for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.3.2025

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 1 100.50 Kč Tištěné - 1 100.50 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	1100.50 Kč bez DPH
1 100.50 Kč

Informace o normě:

Označení normy: GOST R 71334-2024
Datum vydání normy: 1.3.2025
Kód zboží: NS-1187750
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Ostatní zařízení pro radiokomunikace

Doporučujeme:

EviNor - Řízení a aktualizace českých norem

Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.