Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Epitaxial structures. Method for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.3.2025
Označení normy: GOST R 71334-2024
Datum vydání normy: 1.3.2025
Kód zboží: NS-1187750
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 04.09.2026 (Počet položek: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.