Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GOST 26239.5-84
Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Automaticky přeložený název:
Semiconductor křemík a křemene. Způsob stanovení nečistot
NORMA vydána dne 1.1.1986
Informace o normě:
Označení normy: GOST 26239.5-84
Datum vydání normy: 1.1.1986
Kód zboží: NS-389166
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy GOST 26239.5-84 :
Implemented changes and corrections:
Amd. 10.90
Podobné normy:
1.1.1986
1.1.1986
1.1.1986
1.1.1987
1.1.1987
1.1.1988
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
