Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. Method of impurities determination
NORMA vydána dne 1.1.1986
Označení normy: GOST 26239.1-84
Datum vydání normy: 1.1.1986
Kód zboží: NS-389162
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST
Implemented changes and corrections:
Amd. 10.90
1.1.1991
1.1.1973
1.1.1984
1.1.1984
1.7.1973
1.1.1991
Poslední aktualizace: 08.06.2025 (Počet položek: 2 203 914)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.
Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.