Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41Test method for reliability of non-volatile memory devices
Přeložit název
NORMA vydána dne 27.2.2026
Označení normy: GB/T 4937.41-2026
Poznámka: K dispozici od: září 2026
Datum vydání normy: 27.2.2026
Kód zboží: NS-1264511
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 12.07.2026 (Počet položek: 2 286 472)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.