Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
Přeložit název
NORMA vydána dne 2.12.2025
Označení normy: GB/T 4937.38-2025
Datum vydání normy: 2.12.2025
Kód zboží: NS-1252190
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 21.09.2026 (Počet položek: 2 302 422)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.