Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.5.2025
Označení normy: GB/T 45720-2025
Datum vydání normy: 30.5.2025
Kód zboží: NS-1223631
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 14.08.2026 (Počet položek: 2 293 479)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.