Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metricZDD
Přeložit název
NORMA vydána dne 25.4.2024
Označení normy: GB/T 43894.1-2024
Datum vydání normy: 25.4.2024
Kód zboží: NS-1184694
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 21.05.2026 (Počet položek: 2 279 758)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.