Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
Přeložit název
NORMA vydána dne 27.11.2023
Označení normy: GB/T 43313-2023
Datum vydání normy: 27.11.2023
Kód zboží: NS-1164283
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 03.11.2026 (Počet položek: 2 209 039)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.