Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 43313-2023
Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
Přeložit název
NORMA vydána dne 27.11.2023
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 43313-2023
Datum vydání normy: 27.11.2023
Kód zboží: NS-1164283
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
