Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for excess-charge-carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon bricks and silicon wafers—Noncontact eddy-current sensor
Přeložit název
NORMA vydána dne 6.8.2023
Označení normy: GB/T 42907-2023
Datum vydání normy: 6.8.2023
Kód zboží: NS-1150801
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 22.09.2026 (Počet položek: 2 302 417)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.