Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.7.2026
Označení normy: GB/T 42709.35-2026
Poznámka: K dispozici od: únor 2027
Datum vydání normy: 30.7.2026
Kód zboží: NS-1281379
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 24.09.2026 (Počet položek: 2 302 501)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.