Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 42709.29-2026
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin films under room temperature
Přeložit název
NORMA vydána dne 28.8.2026
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 42709.29-2026
Poznámka: K dispozici od: březen 2027
Datum vydání normy: 28.8.2026
Kód zboží: NS-1283839
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
