Norma GB/T 41751-2022 12.10.2022 náhled

GB/T 41751-2022

Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers

Přeložit název

NORMA vydána dne 12.10.2022


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 3 pracovních dnů
Cena4746.90 bez DPH
4 746.90

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 41751-2022
Datum vydání normy: 12.10.2022
Kód zboží: NS-1173894
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Kategorie - podobné normy:

Zkoušení kovů

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.