Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
Přeložit název
NORMA vydána dne 31.12.2021
Označení normy: GB/T 41064-2021
Datum vydání normy: 31.12.2021
Kód zboží: NS-1047145
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 13.05.2026 (Počet položek: 2 276 848)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.