Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers
Přeložit název
NORMA vydána dne 18.4.1995
Označení normy: GB/T 4058-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Kód zboží: NS-883897
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 26.08.2024 (Počet položek: 2 344 895)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.