NEPLATNÁ GB/T 4058-1995 18.4.1995 náhled

GB/T 4058-1995

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers

Přeložit název

NORMA vydána dne 18.4.1995


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 3 pracovních dnů
Cena9 659.00 bez DPH
9 659.00

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 4058-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Kód zboží: NS-883897
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.