Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances
Přeložit název
NORMA vydána dne 12.7.2017
Označení normy: GB/T 33922-2017
Datum vydání normy: 12.7.2017
Kód zboží: NS-815417
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 30.10.2026 (Počet položek: 2 208 138)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.