Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 32495-2016
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.2.2016
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 32495-2016
Datum vydání normy: 24.2.2016
Kód zboží: NS-649290
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
