Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 32280-2022
Test method for warp and bow of silicon wafers—Automated non-contact scanning method
Přeložit název
NORMA vydána dne 9.3.2022
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 32280-2022
Datum vydání normy: 9.3.2022
Kód zboží: NS-1054204
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
