Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.12.2015
Označení normy: GB/T 32280-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2015
Kód zboží: NS-649069
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 18.07.2024 (Počet položek: 2 337 971)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.