Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro tloušťce oxidu křemíku na Si substrátu elipsometr
NORMA vydána dne 30.9.2014
Označení normy: GB/T 31225-2014
Datum vydání normy: 30.9.2014
Kód zboží: NS-367011
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 24.06.2026 (Počet položek: 2 284 377)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.