Norma GB/T 31225-2014 30.9.2014 náhled

GB/T 31225-2014

Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer

Automaticky přeložený název:

Zkušební metoda pro tloušťce oxidu křemíku na Si substrátu elipsometr



NORMA vydána dne 30.9.2014


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 3 pracovních dnů
Cena5874.40 bez DPH
5 874.40

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 31225-2014
Datum vydání normy: 30.9.2014
Kód zboží: NS-367011
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Kategorie - podobné normy:

Měření délky a úhlu obecně

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.