Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 31225-2014
Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro tloušťce oxidu křemíku na Si substrátu elipsometr
NORMA vydána dne 30.9.2014
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 31225-2014
Datum vydání normy: 30.9.2014
Kód zboží: NS-367011
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
