Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro tloušťku a celková variace tloušťky křemíkových plátků pro solární články
NORMA vydána dne 24.7.2014
Označení normy: GB/T 30869-2014
Datum vydání normy: 24.7.2014
Kód zboží: NS-366614
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 23.10.2026 (Počet položek: 2 207 789)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.