NEPLATNÁ GB/T 30867-2014 24.7.2014 náhled

GB/T 30867-2014

Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers

Automaticky přeložený název:

Zkušební metoda pro měření tloušťky a celkové variace tloušťky monokrystalických destiček karbidu křemíku



NORMA vydána dne 24.7.2014


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 3 pracovních dnů
Cena4317.80 bez DPH
4 317.80

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 30867-2014
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 24.7.2014
Kód zboží: NS-366612
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.