Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

GB/T 30867-2014

Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers

Automaticky přeložený název:

Zkušební metoda pro měření tloušťky a celkové variace tloušťky monokrystalických destiček karbidu křemíku

NORMA vydána dne 24.7.2014

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 4 208.30 Kč Tištěné - 4 208.30 Kč
Dostupnost	do 3 pracovních dnů
Cena	4208.30 Kč bez DPH
4 208.30 Kč

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 30867-2014
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 24.7.2014
Kód zboží: NS-366612
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Doporučujeme:

EviNor - Řízení a aktualizace českých norem

Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.