Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro měření průměru monokrystalického křemíku karbidu plátků
NORMA vydána dne 24.7.2014
Označení normy: GB/T 30866-2014
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 24.7.2014
Kód zboží: NS-366611
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 23.04.2026 (Počet položek: 2 274 600)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.