Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysisChemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Automaticky přeložený název:
Surface chemický analysis'? Hemická metody pro sběr prvků z povrchu křemíku plátku pracovní referenční materiály a jejich odhodlání tím, celková-odraz X-ray fluorescence (TXRF) spektroskopie
NORMA vydána dne 27.3.2014
Označení normy: GB/T 30701-2014
Datum vydání normy: 27.3.2014
Kód zboží: NS-366429
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 30.06.2026 (Počet položek: 2 285 193)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.