Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 29507-2013
Test method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro měření rovinnosti, tloušťky a celkové variace tloušťky na křemíkových plátků pomocí automatické bezkontaktní snímání
NORMA vydána dne 9.5.2013
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 29507-2013
Datum vydání normy: 9.5.2013
Kód zboží: NS-365295
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
