Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 29507-2013
Test method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro měření rovinnosti, tloušťky a celkové variace tloušťky na křemíkových plátků pomocí automatické bezkontaktní snímání
NORMA vydána dne 9.5.2013
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 29507-2013
Datum vydání normy: 9.5.2013
Kód zboží: NS-365295
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
