Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.1.2011
Označení normy: GB/T 26068-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2011
Kód zboží: NS-881201
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 17.07.2024 (Počet položek: 2 336 011)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.