Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for - impurities
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Označení normy: GB/T 24581-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-879446
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 02.02.2026 (Počet položek: 2 259 307)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.