Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 24580-2009
Test method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 24580-2009
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-879445
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
