Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 24.7.2024
Označení normy: GB/T 24578-2024
Datum vydání normy: 24.7.2024
Kód zboží: NS-1201448
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 13.08.2026 (Počet položek: 2 293 179)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.