Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

GB/T 24578-2015

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

Přeložit název

NORMA vydána dne 10.12.2015

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 8 540.00 Kč Tištěné - 8 540.00 Kč
Dostupnost	do 3 pracovních dnů
Cena	8540.00 Kč bez DPH
8 540.00 Kč

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 24578-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2015
Kód zboží: NS-647951
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Doporučujeme:

Aktualizace zákonů

Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.

Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.