Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.12.2015
Označení normy: GB/T 24578-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2015
Kód zboží: NS-647951
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 05.04.2026 (Počet položek: 2 271 011)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.