NEPLATNÁ GB/T 24578-2015 10.12.2015 náhled

GB/T 24578-2015

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

Přeložit název

NORMA vydána dne 10.12.2015


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 3 pracovních dnů
Cena8594.20 bez DPH
8 594.20

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 24578-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2015
Kód zboží: NS-647951
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.