Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Označení normy: GB/T 24578-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-879443
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 12.05.2025 (Počet položek: 2 199 201)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.