Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning
Přeložit název
NORMA vydána dne 19.9.2005
Označení normy: GB/T 19922-2005
Datum vydání normy: 19.9.2005
Kód zboží: NS-873805
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 22.09.2026 (Počet položek: 2 302 417)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.