Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB/T 19444-2004
Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction
Přeložit název
NORMA vydána dne 5.2.2004
Informace o normě:
Označení normy: GB/T 19444-2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 5.2.2004
Kód zboží: NS-873175
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
