Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction
Přeložit název
NORMA vydána dne 5.2.2004
Označení normy: GB/T 19444-2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 5.2.2004
Kód zboží: NS-873175
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 14.05.2026 (Počet položek: 2 277 490)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.