Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection
Přeložit název
NORMA vydána dne 22.12.1997
Označení normy: GB/T 17169-1997
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 22.12.1997
Kód zboží: NS-869433
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 20.07.2024 (Počet položek: 2 338 064)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.