Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method
Přeložit název
NORMA vydána dne 21.5.2021
Označení normy: GB/T 1551-2021
Datum vydání normy: 21.5.2021
Kód zboží: NS-1032000
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 28.04.2026 (Počet položek: 2 274 955)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.