Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
Automaticky přeložený název:
Způsob čisté hustotu dopravce v křemíku epitaxních vrstev napětí-kapacitní bránou a ungated diodami
NORMA vydána dne 31.12.2013
Označení normy: GB/T 14863-2013
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.12.2013
Kód zboží: NS-349395
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 06.11.2025 (Počet položek: 2 243 364)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.