Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.12.1993
Označení normy: GB/T 14863-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.12.1993
Kód zboží: NS-865766
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 06.11.2025 (Počet položek: 2 243 364)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.