NEPLATNÁ GB/T 14863-1993 30.12.1993 náhled

GB/T 14863-1993

Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes

Přeložit název

NORMA vydána dne 30.12.1993


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 3 pracovních dnů
Cena10496.20 bez DPH
10 496.20

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 14863-1993
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.12.1993
Kód zboží: NS-865766
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.